Formación académica
Doctorado Universidad de Sao Pablo
Ingeniería Metalúrgica y de Materiales
Enero 2001 - 2006
Pregrado/Universitario Universidad Nacional de Colombia Sede Medellín
Ingeniería Mecánica
Enero 1992 - 2000
Perfil
Experiencia profesional
Pontificia Universidad Javeriana Cali
Marzo de 2010 - Actualidad
Universidad de Sao Pablo, Brasil
Becario postdoctoral, Laboratorio de Fenómenos de Superficie
2010
Industrias HRV, Ltda, Medellín-Colombia
Asistente de ingeniería
1999
Publicaciones recientes
- Arias Mateus, D. F., Gomez Gomez, A., Velez Restrepo, J. M., De Souza, R. M. (2015) A mechanical and tribological study of Cr/CrN multilayer coatings. Países Bajos, Materials Chemistry and Physics, ISSN: 0254-0584, Ed.: Elsevier, v.160 fasc. N/A p.131 - 140.
- Escobar Rincón, D., Ospina, R., Gómez Gómez, A., Restrepo Parra, E. (2015) Micros-tructure, residual stress and hardness study of nanocrystalline titanium-zirco-nium nitride films. Ceramics International, 41, p.947-952.
- Escobar Rincón, D., Ospina, R., Gómez Gómez, A., Restrepo Parra, E., Arango, P.J. (2014) X-ray microstructural analysis os nanocrystalline TiZrN thin films by diffrac-tion pattern modeling. Materials Characterization, 88, p.119-126.
- Mady, C.E., Rodríguez, S.A., Gómez Gómez, A., Martins De Souza, R. (2012) Numerical analysis of different methods to calculate residual stresses in thin films based on instrumented indentation data. Journal of Materials Research, 27, p.1732 - 1741.
- Gómez Gómez, A., Candido Recco, A.A., Batista De Lima, N., Gallego Martinez, L., Tschiptschin, A.P., Martins De Souza, R. (2010) Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during depo-sition. Surface &Amp; Coatings Technology, Elsevier, 204(20), p.3228 – 3233.
